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如图所示是用干涉法检查某块厚玻璃板的上表面是否平整的装置，所用单色光为普通光加滤光片产生的．检查中所观察到的条纹是由下列哪两个表面反射的光线叠加而成成的()
物理
上表面和 b 的上表面
（2014•闵行区二模）
如图是用干涉法检查某块厚玻璃上的表面是否平整的装置
，所用单色光是普通光源加滤光片产生的，检查中所观察到的干涉条纹是由下列哪两个表面反射光线叠加而成的
物理
面和b的下表面
如图所示是用干涉法检查某块厚玻璃板上表面是否平整的装置，所用单色光是用普通光源加滤光片产生的．检查中所观察到的干涉条纹是由下列哪两个表面反射的光叠加而成的（）A．a
物理
如图所示，是用干涉法检查某块厚玻璃板的上表面是否平整的装置，a为标准样板，b为待测厚玻璃板，所用单色光是用普通光源加滤光片产生的，检查中所观察到的干涉条纹是由下列哪两个
物理
b的下表面D. b的上、下
如图甲所示为用干涉法检查某块厚玻璃板的上表面是否平的装置.若待验板的上表面平整，则当平行的单色光照射到标准板上时，可从标准板上方观察到平行的、明暗相间的干涉条纹.若观察
物理
个沿ab方向凸起的高台D.
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