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共找到 1 与每一测次应观测两测回 相关的结果,耗时222 ms
引张线观测可采用读数显微镜,
每一测次应观测两测回
,两测回之差不得超过( )。A.0.05mmB.0.1mmC.0
引张线观测可采用读数显微镜,每一测次应观测两测回,两测回之差不得超过( )。A.0.05mmB.0.1mmC.0.15mmD.0.3mm
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