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共找到 2 与芯片测试的标 相关的结果，耗时16 ms
现代电子设计方法包含了可测试设计,其中(39)接口是IC
芯片测试的标
准接口。A.BISTB.JTAGC.UARTD.US
现代电子设计方法包含了可测试设计，其中(39)接口是IC芯片测试的标准接口。A．BISTB．JTAGC．UARTD．USB
● 现代电子设计方法包含了可测试设计,其中(39) 接口是 IC
芯片测试的标
准接口。 (39)A. BIST B.
● 现代电子设计方法包含了可测试设计，其中 （39） 接口是 IC 芯片测试的标 准接口。（39）A. BIST B. JTAG C. UART D. USB
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