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现代电子设计方法包含了可测试设计,其中(39)接口是IC芯片测试的标准接口。A.BISTB.JTAGC.
UARTD
.US
现代电子设计方法包含了可测试设计，其中(39)接口是IC芯片测试的标准接口。A．BISTB．JTAGC．UARTD．USB
下面4种嵌入式系统的I／O接口中,哪一种可以实现并行I／O?()。A.GPIOB.SPIC.
UARTD
.I2C
下面4种嵌入式系统的I/O接口中，哪一种可以实现并行I/O？（）。A.GPIOB.SPIC.UARTD.I2C
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