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利用薄膜干涉可检查工件表面的平整度．如图（a）所示，现使透明标准板M和待检工件N间形成一楔形空气薄层，并用单色光照射，可观察到如图（b）所示的干涉条纹，条纹的弯曲处P和Q对应其他

纹的cd点对应处的薄膜厚度相

如图所示是用干涉法检查某块厚玻璃板的上表面是否平整的装置，所用单色光为普通光加滤光片产生的．检查中所观察到的条纹是由下列哪两个表面反射的光线叠加而成成的() 物理

上表面和 b 的上表面

利用薄膜干涉可检查工件表面的平整度．如图（a）所示，现使透明标准样板板M和待测工件间形成一楔形空气薄层，并用单色光照射，可观察到如图（b）所示的干涉条纹，条纹的弯曲处P和Q 其他

N板上表面的A处向下凹下C．

如图所示是检验滚珠质量的干涉装置．在两块平玻璃板之间放三颗尺寸很小的滚珠A、B、C．在钠黄光的垂直照射下，形成如图上方所示的干涉条纹．已知三颗滚珠中只有一颗是尺寸不符合标其他

如图所示，在双缝干涉实验中SS1=SS2，用波长为λ1的光照射双缝S1和S2，通过空气后在屏幕E上形成干涉条纹．已知P点处为第三级明条纹，则S1和S2到P点的光程差为，如果用白光照射时，在其他

在用双缝干涉测光的波长的实验中，采用了如图所示的装置．（1）若在视野中只看到一片亮光却看不到干涉条纹，可能的原因是；（2）经调整后看到明暗相间的条纹．若将红色滤光片换物理

中心刻线对齐第一条亮纹时，手

如图所示，为黄光、蓝光分别通过同一干涉装置形成的干涉条纹中心部分，则以下说法正确的是（）A.图甲为黄光产生的干涉条纹B.图甲为蓝光产生的干涉条纹C.从同一介质射向真空物理

如图1所示，小明同学用图1装置进行“用双缝干涉测波长”的实验时，透过放大镜B观察到了绿光的干涉条纹，但条纹的亮度很低，为了便于测量，下列方法能够使条纹亮度增加的是．A．物理

置（2）小明在做（1）问实验

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