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如图所示是用干涉法检查某块厚玻璃板上表面是否平整的装置，所用单色光是用普通光源加滤光片产生的．检查中所观察到的干涉条纹是由下列哪两个表面反射的光叠加而成的（）A．a 物理

如图，在工业生产中常用干涉法检查物体表面是否平整，若被测物表面平整干涉条纹是一组平行的直线，否则条纹弯曲．图中被测物表面A点是（凹、凸），B点是．此处干涉光来源其他

下列说法正确的是（）A.检验工件平整度的操作中，如图1所示，上面为标准件，下面为等检测工件，通过干涉条纹可推断：P为凹处，Q为凸处B.图2为光线通过小圆板得到的衍射图样C. 物理

变D. 按照玻尔理论，氢原

（2014•闵行区二模）如图是用干涉法检查某块厚玻璃上的表面是否平整的装置，所用单色光是普通光源加滤光片产生的，检查中所观察到的干涉条纹是由下列哪两个表面反射光线叠加而成的物理

面和b的下表面

利用薄膜干涉可检查工件表面的平整度．如图（a）所示，现使透明标准板M和待检工件N间形成一楔形空气薄层，并用单色光照射，可观察到如图（b）所示的干涉条纹，条纹的弯曲处P和Q对应其他

纹的cd点对应处的薄膜厚度相

图示是用薄膜干涉法检查平面的平整程度的示意图，其中AB是透明的标准样板，CD是被检查的平面．用单色光从上面竖直地照射下来，从AB上方观察到有明暗相同的条纹，这是由两束反射光叠物理

反射光分别是从AB的上表面和

如图，用干涉法检查工件表面的平整度时，产生的干涉条纹是一组平行的直线，若劈尖的上表面向上平移，干涉条纹将（填“变窄”、“变宽”或“不变”，下同）；若使劈尖的角度增大物理

如图所示用单色光检查工件上表面是否平整，观察到的现象如图所示的条纹中的P和Q分别为待测工件在A和B处的情况，这说明()A．M为待测工件B．N的上表面B处向上物理

D.若减小二工件间

如图所示是用干涉法检查某块厚玻璃板的上表面是否平整的装置，所用单色光为普通光加滤光片产生的．检查中所观察到的条纹是由下列哪两个表面反射的光线叠加而成成的() 物理

上表面和 b 的上表面

利用薄膜干涉可检查工件表面的平整度．如图（a）所示，现使透明标准样板板M和待测工件间形成一楔形空气薄层，并用单色光照射，可观察到如图（b）所示的干涉条纹，条纹的弯曲处P和Q 其他

N板上表面的A处向下凹下C．

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